前言：

動態(tài)特性是功率器件的重要特性，在器件研發(fā)、系統(tǒng)應(yīng)用和學(xué)術(shù)研究等各個環(huán)節(jié)都扮演著非常重要的角色。故對功率器件動態(tài)參數(shù)進(jìn)行測試是相關(guān)工作的必備一環(huán)，主要采用雙脈沖測試進(jìn)行。

支持的器件封裝類型

長期以來，針對分立器件的測試系統(tǒng)選擇很少，其中一個原因是分立器件的封裝種類很多導(dǎo)致開發(fā)成本和硬件成本高，特別對于貼片封裝器件更是如此。市面上大多數(shù)測試系統(tǒng)僅支持TO-247、TO-220這樣的插件器件，無法對其他封裝形式的器件進(jìn)行測試，極大地限制了測試系統(tǒng)的應(yīng)用場景。

針對這一問題，泰克科技推出的功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)DPT1000A采用轉(zhuǎn)接板的方式滿足了絕大多數(shù)封裝形式分立器件的測試需求。轉(zhuǎn)接板上采用socket對器件進(jìn)行電氣連接，轉(zhuǎn)接板再插入到測試電路上的socket上，能夠方便快速地實(shí)現(xiàn)被測器件及不同封裝的更換。

滿足的測試電壓、電流范圍

合適的測量儀器是測試系統(tǒng)能夠獲得精準(zhǔn)的測試結(jié)果的基礎(chǔ)，主要包括示波器、電壓探頭、電流探頭。我們可以看到一些測試系統(tǒng)在測量儀器選擇上存在很大的問題，例如：

使用基礎(chǔ)示波器測量高速M(fèi)OSFET、高速IGBT、SiC MOSFET，由于帶寬和采樣率嚴(yán)重不足導(dǎo)致測試結(jié)果與實(shí)際值偏差較大

使用ADC位數(shù)為8bit的示波器測量高電壓、大電流器件，由于分辨率低導(dǎo)致測量值精度差

使用高差分探頭測量驅(qū)動波形，導(dǎo)致波形噪聲大、震蕩嚴(yán)重

使用羅氏線圈測量SiC MOSFET的端電流，由于帶寬嚴(yán)重不足導(dǎo)致測試結(jié)果與實(shí)際值偏差較大

泰克針對被測信號的特征在功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)DPT1000A選擇使用了合適的測量儀器以提升測試結(jié)果的精度。示波器選用MSO5B系列，帶寬最高可達(dá)2GHz、記錄長度高達(dá)500M并具備12位ADC，可滿足高速開關(guān)對帶寬的要求且具備較高的采樣率、更低的噪聲和更高的垂直分辨率。柵極波形測量選用無源探頭，帶寬可達(dá)1GHz、衰減倍數(shù)小并具備MMCX接口，可精準(zhǔn)測量下管的驅(qū)動電壓，并降低了接地線的影響。

端電壓測量選用高壓差分探頭，在滿足寬電壓測量范圍的同時具有更大的輸入阻抗，提供了安全的測試保障。端電流測試選用shunt電阻，其帶寬達(dá)到1GHz以上，能夠滿足高速器件對帶寬的要求。