TH2840系列LCR數字電橋是常州同惠電子采用了新一代技術研制成功的新一代LCR數字電橋，創新性的采用了雙CPU架構、Linux底層系統、10.1寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內置使用說明及幫助等新一代技術，解決了以往LCR測試速度慢、顯示單一、操作繁瑣等缺陷。

TH2840系列LCR數字電橋設計頻率從20Hz-500kHz/2MHz，彌補了500kHz頻率范圍內缺乏高性能電橋的缺點。得益于采用了10.1寸、分辨率達1280*800的電容式觸摸屏，TH2840系列LCR數字電橋采用了四參數顯示、所有設置、監視、分選參數、狀態等可以在同一屏顯示，避免了頻繁切換的繁瑣操作。

性能特點 

■ 高穩定性和一致性：14個量程配置 

■ 高功率：信號電平：20VAC/100mAAC 內置直流偏置：±40VDC/100mADC 內置電流源：±2A 

■ DCR電平：20VDC/100mADC 

■ 高速度：測試速度高達0.56ms（1800次/秒） 

■ 高分辨：10.1英寸，分辨率1280*800，電容式觸摸屏 

■ 點測、列表掃描、圖形掃描三種測試方式 

■ 四參數測量 

■ 201點多參數列表掃描功能 

■ 圖形掃描功能，4軌跡任意選擇，支持1/2/4分屏 

■ 分選功能：LCR模式10檔分選 

■ 高兼容性：支持SCPI/MODBUS指令集， 兼容KEYSIGHT E4980A、E4980AL、HP4284A 

高達1800次/秒測量速度

       由于創新性的采用了雙CPU設計，一個CPU負責測試處理數據，另一個CPU負責顯示數據，因此TH2840測試速度高達1800次/秒。

       高速的測試速度在自動化產線可以極大的提高效率。

       對于部分需要實時采樣體現被測件瞬態變化特征，或者測量變化過程相應時間，TH2840系列0.56ms的測量速度可完美解決。

       如下列應用，在兩個極板之間加載偏壓，兩端電容隨著偏置電壓變化而變化.

       記錄未加偏置時電容C0

       偏置上升過程中的電容值

       偏壓達到20V并且穩定之后的電容C1

       計算從C0-C1之間的穩定時間Th。

       常規的LCR數字電橋，由于測試速度限制，采樣率無法達到幾乎實時采集，用TH2840系列雙CPU，可實時觀察變化過程并計算出穩定時間。

超強硬件配置

     除了雙CPU設計，TH2840系列也增強了其他硬件配置參數：

    1.    AC測試電平提升至20Vrms/100mA，同類產品僅TH2838H可達到，在測試C-V曲線時范圍更廣

    2.    DC偏置為±40V/±100mA，為同類產品最高配置

    3.    標配獨立2A直流偏置電流源，為2A電流以內電感測試帶來福音，支持外界TH1778A系列擴展至120A。

    4.    DCR測試電平提升至20V，測試mH級及以上電感更快速穩定精確。

智能固件升級方式

       儀器本身功能完善、BUG解決、功能升級等，都可以通過升級固件(Firmware)來進行更新，而無需返廠進行。

       TH2840系列LCR數字電橋固件升級非常智能，可以通過系統設置界面或者文件管理界面進行，智能搜索儀器內存、外接優盤

甚至是局域網內升級包，并自動進行升級。

應用 

■ 無源元件： 電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組 件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。 

■ 半導體元件： LED驅動集成電路寄生參數測試分析；變容二極管的C-VDC特性； 晶體管或集成電路的寄生參數分析 

■ 其它元件： 印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估 

■ 介質材料： 塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估 

■ 磁性材料： 鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估 

■ 半導體材料： 半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性

• ? TH2840B同惠LCR數字電橋.pdf